HORIBA堀場(chǎng)微區(qū)X射線熒光分析儀 型號(hào)XGT-9000 XGT-9000 樣品倉(cāng)可容納各種樣品，包括微型碎片、印刷電路板、硬幣、薄片、粉末、液體、晶圓等，并根據(jù)需求提供樣品架。

臺(tái)式XGT - 5200系統(tǒng)搭載*的X射線導(dǎo)管，允許高空間分辨率的X射線熒光分析--從1.2毫米到10微米。無(wú)需任何樣品制備或真空--樣品僅需要放置在樣品室中，即可在正常大氣壓力下分析。*整合的軟件可控制樣品的移動(dòng)，獲取數(shù)據(jù)分析（包括定性和定量分析，并生成成分組成圖像）。將樣品放在樣品祥中后，只需幾秒鐘，借助直觀的“point and click"選擇分析位置，即開(kāi)始抓取數(shù)據(jù)。

一代的X射線熒光分析顯微鏡XGT-7000開(kāi)創(chuàng)了科學(xué)分析的新時(shí)代。它將光學(xué)圖像與元素分析*地結(jié)合，為科研工作者的研究和分析提供了新的分析手段。 SDD檢測(cè)器保證了高速、高精度元素面掃描；高能量分辨率，高計(jì)數(shù)率的測(cè)量，且無(wú)需液氮。 雙真空式設(shè)計(jì)確保用戶可以在幾秒鐘內(nèi)完成樣品室內(nèi)部氛圍的切換（大氣或真空）。即使測(cè)量含水樣品、生物樣品時(shí)也可以保證測(cè)量所有元素的高靈敏

HORIBA scientific的各種分析儀器可以助您探索生命科學(xué)的奧秘，Z終達(dá)到診斷疾病，改善人類生活，保護(hù)環(huán)境等目的。

*功能分析評(píng)估材料結(jié)構(gòu)性能，符合材料設(shè)涉及力，熱，聲，光，電功能的材料，他們?cè)谏茖W(xué)，納米，傳感器，只能設(shè)備及其前前沿交叉應(yīng)用中發(fā)揮著日益重要的作用，horibaXploRA Nano&Nanolog等代表性儀器，可以為這些材料的結(jié)構(gòu)性能研究提供的設(shè)備和分析應(yīng)用開(kāi)發(fā)。