HORIBA堀場微區(qū)X射線熒光分析儀

基本信息

儀器

微區(qū)X射線熒光分析儀

樣品類型

固體、液體、顆粒

檢測元素

輕元素檢測器：C* – Am
(常規(guī)檢測器：F – Am)

樣品倉尺寸

450(W) x 500(D) x 80(H)

1030(W) x 950(D) x 500(H)

樣品尺寸

300(W) x 250(D) x 80(H)

500(W) x 500(D) x 500(H)

樣品質量

1 kg

10 kg

光學觀察

兩個帶物鏡的高分辨率相機

光學設計

垂直同軸 X 射線和光學觀察

樣品照明/觀察

頂部、底部和側向照明/明場和暗場

X-射線管

功率

50 W

電壓

50 kV以下

電流

1 mA以內

靶材

Rh

X射線光光學系統(tǒng)

X射線頭數量

多達配置四個

光譜優(yōu)化初級X-射線濾光片  

5個位置

檢測器

熒光X-射線檢測器

硅漂移檢測器（SDD）

透射X射線檢測器

NaI(Tl)

掃描分析

掃描范圍

100 mm x 100 mm

350 mm x 350 mm

步進尺寸

2 mm

4 mm

Operating mode

樣品環(huán)境

全真空/局部真空/大氣環(huán)境/He吹掃（選配）

局部真空/大氣環(huán)境/He吹掃（選配）*He吹掃條件對于兩個檢測器都檢測到C和F是必要的。